Műszaki felületek topográfiájának vizsgálata az analóg profilfelvételtől a háromdimenziós számítógépes elemzésig
| Cím | Műszaki felületek topográfiájának vizsgálata az analóg profilfelvételtől a háromdimenziós számítógépes elemzésig |
| Közlemény típusa | Conference Proceedings |
| Kiadás éve | 2000 |
| Szerzők | Palásti Kovács, B., K. Kovács, K. Váradi, and C. Wiezl |
| Konferencia neve | Magyar Informatikusok II. Világtalálkozója |
| Kötetszám | 2 |
| Oldalszám | 769-782 |
| Kiadás dátuma | 06/2000 |
| Konferencia helyszíne | Budapest |
| Kiadás nyelve | magyar |
| ISBN-szám | 963-577-313-7 |