Correlation between the critical layer thickness and the decay time constant of RHEED oscillations in strained InxGa1-xAs/GaAs structures
| Cím | Correlation between the critical layer thickness and the decay time constant of RHEED oscillations in strained InxGa1-xAs/GaAs structures |
| Közlemény típusa | Journal Article |
| Kiadás éve | 2000 |
| Szerzők | Nemcsics, Á. |
| Folyóirat | THIN SOLID FILMS |
| Évfolyam | 367 |
| Oldalszám | 302 - 305 |
| Kiadás dátuma | 2000 |
| Kiadás nyelve | eng |