Valuing of the critical layer thickness from the deading time constant of RHEED oscillation in the case of InxGa1-xAs/GaAs heterojunction
| Cím | Valuing of the critical layer thickness from the deading time constant of RHEED oscillation in the case of InxGa1-xAs/GaAs heterojunction |
| Közlemény típusa | Journal Article |
| Kiadás éve | 2002 |
| Szerzők | Nemcsics, Á. |
| Folyóirat | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| Évfolyam | 190 |
| Kötet | 1-4 |
| Oldalszám | 294 - 297 |
| Kiadás dátuma | 2002 |
| Kiadás nyelve | eng |