Relationship between the critical layer thickness and the decay-time constant of RHEED oscillation at the InGaAs/GaAs heterostructures
| Cím | Relationship between the critical layer thickness and the decay-time constant of RHEED oscillation at the InGaAs/GaAs heterostructures |
| Közlemény típusa | Conference Paper |
| Kiadás éve | 2001 |
| Kiadás nyelve | eng |
| Oldalszám | & - |
| Szerzők | Nemcsics, Á. |
| Konferencia neve | E-MRS 2001 Spring Meeting |
| Kiadás dátuma | 2001 |