Design of a low cost submicron measuring probe
| Cím | Design of a low cost submicron measuring probe |
| Közlemény típusa | Conference Paper |
| Kiadás éve | 2010 |
| Kiadás nyelve | english |
| Oldalszám | 401-404 |
| Konferencia neve | SISY 2010 IEEE International Conference on Intelligent Systems and Informatics |
| Konferencia helyszíne | Subotica, Serbia |