Electrical and ellipsometry study of sputtered SiO2 structures with embedded Ge nanocrystals
| Cím | Electrical and ellipsometry study of sputtered SiO2 structures with embedded Ge nanocrystals |
| Közlemény típusa | Journal Article |
| Kiadás éve | 2008 |
| Szerzők | Basa, P., A. S. Alagoz, T. Lohner, M. Kulakci, R. Turan, K. Nagy, and Z. J. Horváth |
| Folyóirat | Appl. Surf. Sci. |
| Évfolyam | 254 |
| Oldalszám | 3626-3629 |
| Kiadás nyelve | English |
| ISSN Number | 0169-4332 |