Electrical and ellipsometry study of sputtered SiO2 structures containing Ge nanocrystals
| Cím | Electrical and ellipsometry study of sputtered SiO2 structures containing Ge nanocrystals |
| Közlemény típusa | Conference Proceedings |
| Kiadás éve | 2006 |
| Szerzők | Basa, P., A. S. Alagoz, T. Lohner, M. Kulakci, K. Nagy, R. Turan, and Z. J. Horváth |
| Konferencia neve | 5th Solid State Surfaces and Interfaces |
| Sorozatcím | Solid State Surfaces and Interfaces |
| Kiadás | Extended Abstract Book |
| Oldalszám | 17-20 |
| Konferencia helyszíne | Smolenice, Slovakia |
| Kiadás nyelve | English |