Ugrás a tartalomra

Publications

Found 1 results

Szűrők: Szerző = Z Zolnai  [Minden szűrő visszaállítása]
2006
Lohner, T., M. Serényi, Z. Zolnai, P. Petrik, Á. Nemcsics, and N. Q. Khanh, "Spectroellipsometric characterization of sputtered amorphous silicon germanium thin films", E-MRS 2005 Spring Meeting, pp. & - , 2006.